TLNC Nano Profiler

Bezkontaktní měření profilu optických prvků jediným snímkem.

TLNC Nano Profiler rychle charakterizuje rovinné optické prvky, například zrcadla. Profil povrchu zachytí jediným snímkem bez skenování, s udávanou přesností lepší než 200 nm.

Rychlá příprava a kalibrace předurčují systém pro laboratorní i výrobní metrologii. Optickou a mechanickou konfiguraci můžeme upravit také pro nerovinné prvky a další požadavky konkrétní aplikace.

Vlastnosti

• Rychlé bezkontaktní měření profilu povrchu
• Měření jediným snímkem bez skenování
• Prvky o průměru až 80 mm nebo čtvercové prvky do 55 × 55 mm; optimalizace pro konkrétní aplikaci na vyžádání
• Pracovní vlnová délka 633 nm; jiné vlnové délky na vyžádání
• Udávaná přesnost lepší než 200 nm
• Dynamický rozsah (max. P-V) až 100 µm

Nezávazná poptávka

Technická dokumentace